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首页-公司新闻-3D光学数码显微镜:微米检测领域的全能利器
行业
典型场景
解决的痛点
半导体
封装飞线检测、芯片台阶测量
传统设备建模断裂,精度不足
3C 电子
玻璃屏平整度、摄像头模组粗糙度
易损件划伤,高反光表面成像模糊
锂电
极片毛刺检测、浆料厚度分析
批量检测效率低,数据统计繁琐
科研院所
材料磨损分析、生物组织三维观测
跨尺度测量需求无法满足
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