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蛮吉光电 多角度光谱系统 OMNIScan-3000T 使用显微高光谱仪检测产品单像素发光分布，同时样品台可变温，可改变测试角度，助益谱型研究、热衰研
究和芯片结构对光场的影响研究。
主要功能：1、光谱收集：多角度光谱收集、3D光谱成像、不同光谱分析发光分布；划线或全图选取指定位置的数据， 特定位置，显示光谱图等。
2、显微镜高倍观察：3D超景深成像、3D轮廓测量、线粗糙度及面粗糙测量、大视野拼图、跨视野尺寸测量、2D测量、2D真彩图采集等。
3、电性测试。
4、样品温度控制。
多角度光谱搜集
自内向外的四处位置依次是1、2、3、4
3D光谱成像
WLP与FWHM
不同光谱分析发光分布
3D超景深成像与轮廓测量
可选择同时集成可见光观察，实现实现微米级的测量精度，满足高精度测量的需求，自动测量和输出结果，极大提高了检测效率。可用于测量点间高度差、高度极值；测量剖面的距离、角度、圆弧半径测；测量凸起、凹陷的体积、表面积；量线粗糙度、面粗糙度等。
大视野拼图
拼接多个图像可以获得一个具有高倍率的广域图像。因为图像是根据坐标数据拼接而成，
粗糙度测量
能够提供非接触式线粗糙度和面粗糙度测量。根据线粗糙度标准：ISO 4287：1997，面粗糙度标准ISO 25178-2:2012。该软件可应用于需要分析表面纹理的各种应用中。表面粗糙度测量的实施基于从地形收集的数据。因此系统能够产生高可靠度的图像。
跨视野尺寸测量
提供了大范围尺寸测量解决方案，摒弃了常规方法中繁琐的步骤。用户只需跨视野轻松指定两点，便能实现对这两点间距离的快速和精准测量。
2D测量
提供多样化的测量功能，如点对点、点到线、平行线、角度和面积等，支持将数据导出至Excel。用户可自定义设置（字体大小、线条颜色、单位显示）以优化测量体验。
多种图像显示
单次成像后，可以一键切换多种成像模式。
电性测试
直流探针座：探针座作为探针台的核心部件，主要用途是固定探针和线缆，为半导体芯片的电学参数测试提供一个稳定的扎针条件，在半导体行业以及光电行业有着广泛的运用。可以实现I/0点测量，DC测试，晶圆测试，电阻电压测试，太阳能电池测试，光电流测，半导体器件分析测试等。
丝杆型直流探针座
型号：DR-200m或者DL-200m（R代表右边，L代表左边）
•主体材质采用进口航空铝，表面喷砂氧化，具备优质的机械性能
•采用进口交叉滚珠导轨，高刚性结构，弹簧消隙
•采用进口高精度丝杆驱动，127 TPI
•X/Y/Z轴行程：12.5mm，精度：0.5μm
•底部超强可调磁性底座，磁性吸附可达10Kg以上，保证扎针的稳定性
•带接地端子，可有效防止静电对测试的影响
•带线夹固定块，便于固定三同轴线缆，防止抖动
•可选配升级真空吸附
电学参数
样品温度控制
LRT微型光学测试冷热台。结构紧凑，适用于各种光学测试；-190℃到600℃（配液氮制冷模块）；气密腔室设计，可通保护气氛；上位机软件控制；支持改动或定制。
光路组件
旋转组件： 最大±90°旋转，重复定位精度0.01°（不同物镜旋转角度不同）
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上海市嘉定区徐行镇徐烨路688号2号楼4层
